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功率半导体器件【动态】特性测试系统
功率半导体模块【静态】测试系统
Total Solution ————————————————————
一站式动态测试
系统
从实验室到生产线的全覆盖
从Si到SiC的全覆盖
从 IDM 芯片企业到封装企业，再到应用企业的全覆盖
从“SiC 晶圆、Discrete 单管，再到不同封装形式 Power Module，以及逆变器（电控）的全覆盖
—— One Stop功能选配专区  不断延展的新功能
——————————
One More夹具选配专区
主机设备可定制针对不同封装功率半导体模块的测试工装
功率半导体器件静态特性测试系统 STATIC CHARACTERISER For SiC and Si Power Modules


更可靠—测试稳定

电流源精度：pA级

电压源精度：mV级

电阻测量精度：μΩ级

电容测量精度：pF级

更宽—测试范围

具有高压输出测量能力（3000V，可扩展到10000V）

具有大电流输出测量能力（1000A，可扩展至2000A）
超宽范围饱和压降测试能力，最高可至12V超窄脉宽测试能力，最小脉宽50us

更强—测试能力

同时满足SiC MOSFET和硅基IGBT 器件测试

覆盖从器件级到模块级不同封装的测试

覆盖-40℃~200℃ 全温度范围测试

更划算—**性价比

对标业界顶尖静态测试系统，实现功能全覆盖下的**性价比

适配不同封装形式的工装，提供多样化选择

脉冲电流源可模块化扩容升级

更可靠—测试稳定

采用泰克等业界顶尖源表产品，质量可靠，测试稳定

具有双通道电压检测能力，具备半桥模块上下管同时测量能力，提高测试稳定性及测试效率
地址：广州市番禺区市桥街东兴路131号610室、611室
电话：18122131902 
QQ：3612288193
邮箱：cuimin.jin@gzrisen.com
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