标旗光电 ADMS 角分辨光谱分析仪

ADMS ⻆分辨光谱分析仪是⼀款可变⻆度的透反射测量光谱分析仪，可快速实现透射/透散射/漫反射/辐射/软件编译⾃由⻆度等多种光谱测量模式。适⽤于光⼦晶体/超导材料/超晶格/漫反射等纳⽶光学材料的能带、缺陷等特性研究。在薄膜材料/玻璃/光学元器件等⾏业均可采⽤ADMS⻆分辨光谱分析仪实现光学元器件特定⻆度下透过/透散射/漫反射的过程控制测量，可输出BRDF\BTDF分布函数。