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标旗光电FTM 薄膜厚度光谱测量仪

FTM薄膜厚度光谱测量仪通过薄膜表⾯与基底材料反射光⼲涉现象，可快速⽆损测量薄膜的厚度，膜厚测量范围为nm~mm，待测材料主要有PET、氧化物、氮化物和保护膜层等，通常这些覆膜的基底材料包括硅晶⽚或玻璃等，还可测铜箔的厚度，⼴泛应⽤于半导体、⼯业⽣产中。

名称：	薄膜厚度光谱测量仪
规格：	台
品牌：	标旗光电
型号：	FTM

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