HIOKI日置 LCR测试仪 IM3523A

● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D(120 Hz)和ESR(100 kHz)这样的混合测量条件下，整体测量速度提升至约原来的10倍（与旧机型3532 - 50相比）。
● 搭载比较器和BIN测量（分类功能）

● 可进行测量时间为2msec的高速测量