日立X射线荧光分析仪-EA1000VX

• 对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。

• 参数规格：

• 型号名称：EA1000VX

  测量元素：原子序数13(Al)～92(U)

  样品形态：固体、粉末、液体

  射线源：X射线管球(Rh靶材)

  管电压：**50kV   管电流：**1000μA

  检测器：多阴极半导体检测器

  分析领域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自动切换)

  样品观察：彩色CCD摄像头

  滤波器：5种模式自动切换

  样品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm

  定性分析：能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示

  定量分析：块体校准曲线、块体FP法

  有害物质测量功能：环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy

                               材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等

  数据处理：配备EXCEL、配备WORD

  外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm

  安装尺寸：1500（W）×1000（D）

  重量：约60kg

  使用电源（主机）：AC100~240V±10%单相

  选购项：自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质

  
  

  
  

  • 特点：

    1.快速测量

• 与之前的机器SEA1000AII相比，每个样品的测量时间*都缩短了。例如，树脂类样品测量时间缩短了约1/3，金属类则缩短了1/10。实现了处理量（每天可测样品数量）的飞跃性提高。

  
  

与之前的机器SEA1000AII相比，每个样品的测量时间*都缩短了。例如，树脂类样品测量时间缩短了约1/3，金属类则缩短了1/10。实现了处理量（每天可测样品数量）的飞跃性提高。

表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间（平均值）

*Cd为20 ppm，除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最低限所必要的总共时间。（本公司推荐条件下实施）

2. 高技术率检测器（Vortex）

不需要液氮，使用**15万cps的高计数率检测器（Vortex）测量高灵敏度化，实现快速测量及高精度测量等。

3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能，强化了有害物质测量功能—材料判断功能

测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往，在测量前需要选择分析菜单，由于装置可以自动判断材质，不会在选择分析菜单时感到迷茫。

4. 提高操作性—操作面板

根据操作面板的指示器和提示音，了解测量进度。根据测量面板的进度条，把握测量进展。

5. 各种环境限制用的标准物质

除RoHS指令的管理对象元素（Cd,Pb,Cr,Hg,Br）以外，我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。

6. 自动进样器（选购项）

自动进样器最多可连续测量12个样品。

7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理

使用精度管理软件使测量时间变短，通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理（检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成），可测量检查的效率，达到消减成本。