IM3523 LCR测试仪

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择

● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间

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  4端子探头L2000

  DC~8MHz，1m长

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  4端子开尔文夹9140-10

  DC~200kH，50 Ω，1 m长

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  镊形探头L2001

  线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺

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  测试治具9261-10

  线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm

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  测试治具9262

  DC～8 MHz, 直接连接型

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  SMD测试治具9263

  直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm

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  SMD测试治具9677

  用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm

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  SMD测试治具9699

  用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5